基于文献计量的纳米电子学发展态势分析 ☆
The Trends in the Development of Nanoelectronics Based on Bibliometrics
基于文献计量的纳米电子学发展态势分析 ☆ |
| 吕凤先,刘小平,陈欣 |
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The Trends in the Development of Nanoelectronics Based on Bibliometrics |
| Fengxian Lv,Xiaoping Liu,Xin Chen |
| 图4 2009–2018年纳米电子学SCI论文产出排名前10位机构的合作情况 |
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